グループの研究内容
半導体ソフトエラーのシミュレーション
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半導体デバイスを含む電子機器が宇宙由来の環境放射線により照射された場合、一時的な誤動作（ソフトエラー）が発生する場合があります。
このPHITSコードを活用して、ソフトエラーの発生確率を評価するためのシミュレーション技術を大学や民会会社などと協力して開発しております。
これまでの研究で、高精度かつ短時間にソフトエラー発生率を算出する実用的なモデルとして、多重有感領域モデルを開発し、PHITSに実装しました。 |
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| ソフトエラー発生の模式図 |
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研究成果に関係するリンク
産学共創プラットフォーム共同研究推進プログラム（OPERA）“安心・安全・スマートな長寿社会実現のための高度な量子アプリケーション技術の創出” ホームページ
本研究の成果により、第48回日本原子力学会賞 奨励賞を受賞（2016年）
「宇宙線ミュオン」が電子機器の誤作動を引き起こす（2018年5月プレス発表）
超スマートな次世代社会を支えるソフトエラー研究（2020年11月 第15回 原子力機構報告会）
関連論文 [1] S. Abe and T. Sato, Proceedings of 2020 IEEE International Reliability Physics Symposium, April 28 - May 30, Virtual Conference, 8C.5.1-8C.5.6 (2020). [2] S. Abe, et al, IEEE Trans. Nucl. Sci., 66, 1374-1380 (2019). [3] S. Abe and T. Sato, Proceedings of 2016 16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems, September 19-23, Bremen Germany, PE-06 (2016). [4] S. Abe and T. Sato, J. Nucl. Sci. Technol., 53, 451-458 (2016). |
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