閉じる

実験装置INSTRUMENTS

表面・界面・固体の化学分析

  • 振動和周波発生(VSFG)分光装置
    Spectra-Physics
    80L8TICE-ACE-100F-1K
  • 原子間力顕微鏡
    日立ハイテク AFM5000 II
  • 電解放出型電子線マイクロアナライザ(FE-EPMA)
    JEOL JXA-iH200F
  • 顕微ラマン分光装置
    JASCO NRS-4500
  • エネルギー分散型X線分析搭載走査型電子顕微鏡(SEM-EDS)
    JEOL JCM-7000
  • 比表面積分析装置(BET)
    micromeritics Tstar II
  • レーザーアブレーション装置
    イー・エス・アイ NWR213
  • 熱重量示唆熱分析装置(TG-DTA)
    RIGAKU DSC8230
  • 粒度分布測定装置
    大塚電子 ELSZ-2000
  • マイクロマニピュレータ
    MicroSupport MC104
  • 粉末X線回折装置
    PANalytical製　Aeris Research Edition

液体・気体の化学分析

  • 誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS)
    Agilent Technologies 7700 Series ICP-MS
  • 液体クロマトグラフ質量分析装置(LC-MS/MS)
    SHIMADZU LCMS-8030
  • 誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP-OES)
    PerkinElmer Avio200
  • 電気化学水晶振動子マイクロバランス(EQCM)
    ALS Instruments Model 430C
  • 電気化学インピーダンス測定装置
    Solartron Analytical ModuLab XM CHAS 08
  • フーリエ変換赤外(FTIR)分光光度計
    JASCO FT/IR-6700
  • 紫外可視(UV-Vis)分光光度計
    SHIMADZU UV-3600 Plus
  • イオンクロマト
    Thermo Fisher Scientific ICS-1100
  • ガスクロマト
    SHIMADZU GCMS-QP2020NX
  • マルチ四重極誘導結合プラズマ質量分析装置
    PerkinElmer社　NexION5000
  • 粒子計数分析装置
    SYSMEX社　CDA-1000

放射線の計測・照射効果

  • 液体シンチレーションカウンタ
    PerkinElmer Tri-Carb 4910TR
  • ゲルマニウム半導体検出器
    SEIKO EG&G GEM25P4-70
  • α線分光装置
    SEIKO EG&G ALPHA-ENSEMBLE-2
  • メスバウア分光装置
    Wissel MVT-1000
  • 電子スピン共鳴装置(ESR)
    JEOL JES-RE2X, JEOL JES-TE300
  • X線照射装置
    GULMAY MP1, メディエックステック MX-160Labo